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手機面板
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    隨著觸屏手機、平板電腦等電子消費品的普及,制造商在不斷尋求各種有效的技術升級手段與方法,以最新的技術和最優的品質在競爭激烈的市場競爭中勝出。手機面板作為手機觸摸屏最為重要的部分之一,對其平面尺寸和平面度等幾何量提出越來越高的要求。  
    在生產制造過程中,為確保相關尺寸的合格率,必須保證測量設備運行速度快、穩定且測量數據精確。明威開發的高精度、高效率的平面測量功能,通過外加鐳射激光附件能夠在手機面板的表面采集數以萬計的點,使得高精度、高效率的平面測量如虎添翼。
    檢測要求:平面度、R角、幾何尺寸、觸控導電粒子
    測量難點:
    1)采用傳統的聚焦測量模式來測量平面度,速度慢,精度差;
    2)R角測量難抓取,重復精度低;
    3)觸摸屏里面的電路、導電粒子極小,普通鏡頭很難取到圖像;
    4)往往需要全檢,設備稼動率低;
    明威解決方案:
   1)自動影像儀加裝鐳射測量平面度,精度高達3?m,測量速度至少是影像聚焦的5倍;
   2)Vispec軟件提供“R角”測量功能,能自動分辨R角切點,提取最大弧度的R角,重復精度好,智能化提取;
   3)可加裝金相鏡頭,高倍放大導電粒子,圖像不失真;
   4)可多產品自動批量性測量。

     

    

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